Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.
主營:涂鍍層測厚儀,水質(zhì)離子測試包,離子污染測試儀,鍍層內(nèi)應(yīng)力測試儀,表面張力滴重計,哈氏槽,溫濕度記錄儀,輻射測量儀
Ag/Al 手持式光譜儀用鋁上鍍銀厚度標準片
通過濺射或電鍍方法將高純度銀沉積在鋁基材上。是用于校準便攜式手持XRF設(shè)備,以測量鋁基材上鍍銀的產(chǎn)品。手持式光譜儀用鋁上鍍銀標準片是堅固不易彎曲的材料,安裝在帶有十字線的陽極氧化鋁板上,以方便手持XRF儀器的定位和校準。
鋁上鍍銀厚度標準片選購指南:
Ag/Al (Silver/Aluminium) Handheld XRF Coating Thickness Standards |
|
貨號 |
標稱值 |
HHAG800AL999 |
800μin(20μm) |
HHAG1000AL999 |
1000μin(25μm) |
以上為常用厚度,如需要特殊厚度或需要其他基材,請聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。
注意:
1.對于小于等于1微米(40μin)的厚度,交貨標準的允許厚度偏差為±10%。
2.如果厚度> 1微米(40μin),則所交付標準的允許層厚度偏差為±15%。
3.均勻度:5%。
4.認證厚度不確定度(95%置信區(qū)間)±5%。
定義:
均勻度的定義是:(厚度–小厚度)/平均
表示為百分比,其中可以在標準暴露表面的任何位置確定厚度。
由于箔片太脆弱而無法與手持式光譜儀一起使用,因此鋁上鍍銀厚度標準片以獨特的方式包裝,以便與手持式光譜儀一起使用。標準設(shè)計允許用戶在有或沒有視頻成像的情況下瞄準標準,以便校準便攜式XRF儀器的薄膜厚度和材料分析測試。適合用于以下品牌但不限于以下品牌:尼通、伊諾斯、奧林巴斯、牛津、斯派克、日立、牛津、天瑞、浪聲等。
免責申明:以上所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負責,鋁道網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。為保障您的利益,我們建議您選擇鋁道網(wǎng)的 鋁業(yè)通會員。友情提醒:請新老用戶加強對信息真實性及其發(fā)布者身份與資質(zhì)的甄別,避免引起不必要
風險提示:創(chuàng)業(yè)有風險,投資需謹慎。打擊招商詐騙,創(chuàng)建誠信平臺。維權(quán)舉報:0571-89937588。