CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營:熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計,固體TOC分析儀
「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業(yè)績的「SFT系列」(操作性與可靠性共存)的優(yōu)點,并不斷地發(fā)展,成為可對應較廣應用范圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。
產(chǎn)品型號:SFT9200、SFT9250、SFT9255
產(chǎn)品特點:
★ 能夠測量無鉛焊錫
★ 配備了薄膜FP法,可以同時測量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,無鉛焊錫的鍍層
厚度與成份
★ 搭載中心搜索軟件
★ 通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。
★ 擁有防沖功能
★ 搭載激光對焦系統(tǒng)
★ 搭載測試報告自動生成軟件
★ 擁有自動測量軟件以及中心搜索軟件
★ 搭載了薄膜FP法軟件
技術規(guī)格:
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