CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營:熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計,固體TOC分析儀
概要:
將傳統(tǒng)的TMA相比,靈敏度提高了2倍。因為是沒有形狀制約的全膨脹方式,無論是薄膜或碎片樣品都可以測定。另外,只須更換探針就可以完成壓縮、針入、拉伸測量模式。自動冷卻器等的選配件種類充實,將使用便利性和高精度測定成結(jié)合在一起。
特長:
1. 高敏感度通過搭載了新開發(fā)的信號化技術(shù) “Z-stabilizer” ,實現(xiàn)了噪聲水平的降低和高敏感度測定。
2. 高溫高濕的條件下也能夠進行測定通過選配件的追加,高溫高濕的條件下也能夠進行測定。另外,在其他方面還能夠擴張到膨脹測定以及減壓測定。
3. 節(jié)能型的冷卻裝置液氮的消費量削減大約40%(與本公司傳統(tǒng)儀器相比)的節(jié)能型冷卻裝置。 電子制冷器也可選用。
4. 高效的環(huán)境控制氣體控制器中可以安裝質(zhì)量流量計,對環(huán)境氣氛進行流量的控制。
5. 溫度追隨性的提高新開發(fā)溫度控制技術(shù),能夠設法減小程序溫度和試料溫度的差距,提高溫度追隨性。
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