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主營:膜厚測試儀,鍍層膜厚測試儀,半導體膜厚測試儀,鍍金膜厚儀

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供應美國博曼鍍金膜厚測試儀

價格

電議 元/臺

  • 單價:電議
  • 最小起訂量: 1
  • 所在地:廣東 深圳
  • 供貨總量: 1
  • 發(fā)布時間:2016-03-14

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產(chǎn)品描述

深圳市金東霖科技有限公司是長期專注于儀器、儀表領(lǐng)域。本公司倡導&ldquo專業(yè)、務實、高效、創(chuàng)新&rdquo的企業(yè)精神,具有良好的內(nèi)部機制。優(yōu)良的工作環(huán)境以及良好的激勵機制,吸引了一批高素質(zhì)、高水平、高效率的人才。擁有完善的技術(shù)研發(fā)力量和成熟的售后服務團隊。我們的宗旨是:&ldquo用服務與真誠來換取你的信任與支持,互惠互利,共創(chuàng)雙贏!&rdquo我公司愿與國內(nèi)外各界同仁志士竭誠合作,共創(chuàng)未來!

膜厚儀性能,可測量任一測量點,小可達0.025 x 0.051毫米。能夠測量

包含原子序號13至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體極薄的浸液鍍層

(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的

成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。 度領(lǐng)先于世界,到

0.025um (相對與標準片)
數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析

報告格式要求 ;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等

。 統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相

對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、XbarR圖等多種

數(shù)據(jù)分析模式。 XULM X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品

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  • 深圳市金東霖科技有限公司
  • 經(jīng)營模式:貿(mào)易商
  • 主營:膜厚測試儀,鍍層膜厚測試儀,半導體膜厚測試儀,鍍金膜厚儀
  • 地區(qū):廣東 深圳

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