供應(yīng)國外博曼XRAY膜厚測試儀

美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀是一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。 可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀主要特點包括：
可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鋁（原子序數(shù)13號）到鈾（92號）各元素 測厚行業(yè)20年知識和經(jīng)驗的積淀.
美國原裝博曼X-RAY膜厚測試儀可實現(xiàn)如下測試要求：
符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經(jīng)實踐驗證、堅固、耐用的設(shè)計，可在絕大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺空間，也可近產(chǎn)線放置。
計算機(jī)提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機(jī)、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。

1898年11月8日，倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，從此無損檢測技術(shù)開始發(fā)生了質(zhì)的變革。它使固體內(nèi)部的缺陷得以直觀地顯現(xiàn)出來。X射線是一束光子流。在真空中，它以光速直線傳播，本身不帶電，故不受電磁場的影響。具有波粒二象性。從物理學(xué)中，我們知道，凡具有加速度的帶電粒子都會產(chǎn)生電磁輻射。因此當(dāng)電子在高壓電場的作用下，高速運動時，突然撞擊到靶面，（會產(chǎn)生很大的負(fù)加速度）從而形成了所謂的韌致輻射。簡單地說，它是由高速運動的電子撞擊靶面而產(chǎn)生的。另一方面，當(dāng)電子的動能足夠大時，將會把靶面原子的內(nèi)層電子轟擊出來，在原位置形成孔穴，而此刻，外層的電子（位于高能級）產(chǎn)生躍遷以填補(bǔ)該孔穴。同時，它將多余的能量以X射線的形式放出，形成所謂的標(biāo)識X射線。標(biāo)識射線的波長是不連續(xù)的。它取決于靶面的材料。通常用于對材料的化學(xué)成分進(jìn)行定性分析。在無損檢測探傷中，一般用前者。